航空插頭絕緣失（shī）效的原因

對（duì）航空插頭失效品和正常品（pǐn）進行高溫（wēn）試驗,高溫冷卻後的樣品測試絕緣,分別和（hé）結（jié）果（guǒ）表明,故障產品（pǐn）含有一（yī）定量的水分在（zài）航空插頭,與此同時,水的存在和高溫會（huì）降（jiàng）低航空插頭的絕緣電阻。

然後對航空插頭故障產品拆卸實驗,發現航空插頭剩餘內部絕緣組件有淺藍色的腐蝕,光一層（céng）金屬薄膜,失敗航空插頭之前和之後的拆遷封裝（zhuāng）膠絕緣電阻測試,結果表明,失（shī）敗後拆卸航空插頭的絕緣合格,並封裝膠測試（shì）其（qí）絕緣電阻是正常的。

所有金屬部件的航空插頭EDS測試,結果表明,金屬條的金（jīn）屬部件的表麵鍍銀的銅鋅合金（jīn）,和其他金屬部（bù）件沒有銅鋅銀原料,淺藍色的腐蝕,和遷移（yí）的（de）銀膜是（shì）金屬與（yǔ）金屬接（jiē）觸一（yī）條組件,所有組（zǔ）件的絕緣,紅外分析結果表（biǎo）明,該絕緣（yuán）組件分別有聚酯,矽膠,PVC(封（fēng）裝膠),分別對封裝膠和正常封裝脫膠商品（pǐn）用（yòng）於離子色譜分析,結果表明,氯離子含（hán）量的失敗產品包（bāo）裝膠是正常產品的1.8倍,潮濕環（huán）境中氯離子的存在會大大促進金屬部件的腐蝕和離子（zǐ）導電路徑（jìng）的形成。